產品描述

FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 220/222,X射線熒光測量儀，用于快速、無損分析黃金和銀合金：

X射線熒光測量儀用于金銀合金快速無損分析及鍍層厚度測量，菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220是一種優(yōu)化的X射線熒光測量儀器，用于珠寶、硬幣和貴金屬的無損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。在氯（17）到鈾（92）范圍內可同時測定多達24種元素。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220和XAN 222符合DIN ISO 3497和ASTM B568。我公司還經營世界著名品牌的進口全新設備如：英國泰勒霍普森 （Taylor Hobson）、捷克吉爾斯派克 （gearSpect Group）、德國菲希爾 （Helmut Fischer）、德國EPK、荷蘭InnovaTest、瑞士TRIMOS、美國奧林巴斯（ Olympus）、美國雷泰( Raytek)等世界著名廠家生產的粗糙度儀、圓柱齒輪測量儀、涂鍍層測厚儀、各種硬度計、測高儀、超聲波探傷儀、DO-2 K PC錐齒輪單面嚙合測量儀等。歡迎在線留言或來電咨 詢！！

產品特點：

     ? 菲希爾XAN220型X射線金屬材料分析儀為無損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優(yōu)化設計；
     ? 配備固定的準直器和基本慮片，特別適用于貴金屬分析
     ? 配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，適用于更復雜的多元素分析

     ? 由下至上的測量方向，可以*簡便地實現樣品定位

典型應用領域包括：

     ? 珠寶、貴金屬和牙科合金
     ? 黃白色黃金
     ? 鉑和銀
     ? 銠
     ? 合金和涂層分析
     ? 多層涂層分析

所有菲希爾X射線系統(tǒng)的特點是具有出色的精度和長期穩(wěn)定性。重新校準的必要性大大降低，節(jié)省了時間和精力?，F代硅漂移探測器實現了高精度和良好的檢測靈敏度。菲希爾的基本參數法允許在不進行校準的情況下分析固體和液體樣品以及涂層系統(tǒng)。Xan220是一款用戶友好的臺式儀器。樣品定位快速方便。X射線源和半導體探測器組件位于儀器的下部，因此測量方向從樣品下方開始，樣品由透明窗口支撐。

預期用途	能量色散X射線測量儀（ED XRF）用于分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。
元素范圍	硫S（16）至鈾U（92）–同時多達24種元素
重復性	對于金≤0.5‰，測量時間60秒
設計	臺式單元，帶有向上打開的罩
測量方向	自下而上
X射線管	帶鈹窗的微焦點鎢管
高電壓	3 steps：30 kV，40 kV，50 kV;*大陽極電流：1 mA
光圈（準直儀）	? 1 mm (39 mils), 可選? 2 mm (79 mils) or ? 0.6 mm (23.6 mils)
測量點	? 1.2 mm (47 mils) with aperture ? 1 mm (39 mils)平放樣品（測量距離0毫米）

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